ASTM F 1617-1998 用次级离子质谱测定法(SIMS)测定表面钠,铝,钾-硅和EPI衬底的标准试验方法

作者:标准资料网时间:2024-05-01 02:05:13 浏览:8481 来源:标准资料网

【英文标准名称】:StandardTestMethodforMeasuringSurfaceSodium,Aluminum,Potassium,andIrononSiliconandEPISubstratesbySecondaryIonMassSpectrometry
【原文标准名称】:用次级离子质谱测定法(SIMS)测定表面钠,铝,钾-硅和EPI衬底的标准试验方法
【标准号】:ASTMF1617-1998
【标准状态】:作废
【国别】:美国
【发布日期】:1998
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(ASTM)
【起草单位】:ASTM
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:质谱学;金属材料;光谱测定法;试验方法
【英文主题词】:metallicmaterials;spectrometry;massspectrometry;testmethods
【摘要】:
【中国标准分类号】:H12
【国际标准分类号】:77_040_30
【页数】:5P;A4
【正文语种】:英语

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标准名称：	YASO系列小功率增安型三相异步电动机技术条件( 机座号56～90)
中标分类：	电工 >> 旋转电机 >> 防爆电机
发布部门：	中华人民共和国机械电子工业部
发布日期：	1992-06-16
实施日期：	1993-01-01
首发日期：	1900-01-01
作废日期：	1900-01-01
提出单位：	机械电了工业部南阳防爆电气研究所
归口单位：	机械电了工业部南阳防爆电气研究所
起草单位：	南阳防爆电气研究所、天津第二微电机厂
起草人：	项索琴、王宛丽、杨菊珍、王秀芬、张幼光
出版社：	机械工业出版社
出版日期：	1993-01-01
页数：	16页